Лаборатория зондовой микроскопии и нанотехнологий (2-15 К)
Ваш браузер устарел и не обеспечивает полноценную и безопасную работу с сайтом. Пожалуйста обновите браузер, чтобы улучшить взаимодействие с сайтом.

Лаборатория зондовой микроскопии и нанотехнологий

Адрес: 400062, Южный федеральный округ, Волгоградская область, г. Волгоград, ул. Богданова, 32, аудитория 2-15 К

Лаборатория обеспечивает выполнение лабораторных работ при подготовке студентов по направлениям подготовки бакалавров «Нанотехнологии и микросистемная техника», специалистов «Судебная экспертиза».  В лаборатории проводятся занятия по следующим дисциплинам:

  • «Изучение принципа работы и конструкции сканирующего зондового микроскопа. Получение СЗМ-изображения в режиме сканирующего зондового микроскопа»;

  • «Определение основных параметров универсального датчика силового взаимодействия СЗМ «Nanoeducator»;

  • «Получение СЗМ-изображения в режиме туннельной микроскопии»;

  • «Сканирующая зондовая литография»;

В основе сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) лежит детектирование локального взаимодействия, возникающего между твердотельным нанозондом и поверхностью исследуемого образца при их взаимном сближении.

  1. Изучение принципа работы и конструкции сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) «Nanoeducator». Получение СЗМ изображения в режиме сканирующего силового микроскопа. Студенты изучают основы СЗМ, принципа работы и конструкции СЗМ «Nanoeducator», получение СЗМ-изображения в режиме сканирующей силовой микроскопии (ССМ).

  2. Определение основных параметров универсального датчика силового взаимодействия СЗМ. Студенты определяют основные параметры универсального датчика локального силового взаимодействия прибора «Nanoeducator». Выполняют спектроскопию: измерение зависимости силы взаимодействия (амплитуды колебаний зонда) от расстояния «зонд-образец». Получают топографии поверхности и фазового контраста исследуемого образца. Определяют радиус вершины и формы вершины зонда, используя текст объект.

  3. Получение СЗМ-изображений в режиме туннельной микроскопии. Студенты изучают причины артефактов в СЗМ. Получают практические навыки в области обработки и количественного анализа СЗМ изображений. Все аналитические методы исследования содержат артефакты. СЗМ также не лишена артефактов. Если они непонятны, то исследователь не может правильно интерпретировать получаемые СЗМ данные и правильно оценивать работу прибора.

  4. Сканирующая зондовая литография. Изучение физических основ зондовой нанотехнологии. Изучение различных видов литографии, выполняемых с помощью СЗМ. Получение практических навыков выполнения динамической силовой литографии.

Сканирующий зондовый микроскоп Solver PRO

Учебно-научный комплекс NanoEducator


Сканирующий зондовый микроскоп NanoEducator