• О кафедре
• Состав кафедры
• Профориентационная работа
• Лаборатория растровой электронной микроскопии (1-15 К)
• Лаборатория компьютерного моделирования наносистем (1-22 К)
• Лаборатория исследования композитных наноматериалов (1-27а К)
• Лаборатория зондовой микроскопии и нанотехнологий (2-15 К)
• Лаборатория спектральных методов анализа (2-28 К)
• Лаборатория физико-химических методов анализа (3-01 К)
• Лаборатория хроматографических методов анализа и процессов получения наноматериалов (3-02 К)
• Лаборатория рентгеноструктурного анализа (3-03 К)
• Лаборатория технико-криминалистических экспертиз (3-04 К)
• Лаборатория оптических методов исследования в экспертизе (3-06 К)
• Лаборатория естественнонаучных методов исследования (3-13 К)
• Лаборатория оптической микроскопии и материаловедения (3-20 К)
• Лаборатория металлографических методов анализа (3-22 К)

Лаборатория зондовой микроскопии и нанотехнологий

Адрес: 400062, Южный федеральный округ, Волгоградская область, г. Волгоград, ул. Богданова, 32, аудитория 2-15 К

Лаборатория обеспечивает выполнение лабораторных работ при подготовке студентов по направлениям подготовки бакалавров «Нанотехнологии и микросистемная техника», специалистов «Судебная экспертиза».  В лаборатории проводятся занятия по следующим дисциплинам:

• «Изучение принципа работы и конструкции сканирующего зондового микроскопа. Получение СЗМ-изображения в режиме сканирующего зондового микроскопа»;

• «Определение основных параметров универсального датчика силового взаимодействия СЗМ «Nanoeducator»;

• «Получение СЗМ-изображения в режиме туннельной микроскопии»;

• «Сканирующая зондовая литография»;

В основе сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) лежит детектирование локального взаимодействия, возникающего между твердотельным нанозондом и поверхностью исследуемого образца при их взаимном сближении.

1. Изучение принципа работы и конструкции сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) «Nanoeducator». Получение СЗМ изображения в режиме сканирующего силового микроскопа. Студенты изучают основы СЗМ, принципа работы и конструкции СЗМ «Nanoeducator», получение СЗМ-изображения в режиме сканирующей силовой микроскопии (ССМ).

2. Определение основных параметров универсального датчика силового взаимодействия СЗМ. Студенты определяют основные параметры универсального датчика локального силового взаимодействия прибора «Nanoeducator». Выполняют спектроскопию: измерение зависимости силы взаимодействия (амплитуды колебаний зонда) от расстояния «зонд-образец». Получают топографии поверхности и фазового контраста исследуемого образца. Определяют радиус вершины и формы вершины зонда, используя текст объект.

3. Получение СЗМ-изображений в режиме туннельной микроскопии. Студенты изучают причины артефактов в СЗМ. Получают практические навыки в области обработки и количественного анализа СЗМ изображений. Все аналитические методы исследования содержат артефакты. СЗМ также не лишена артефактов. Если они непонятны, то исследователь не может правильно интерпретировать получаемые СЗМ данные и правильно оценивать работу прибора.

4. Сканирующая зондовая литография. Изучение физических основ зондовой нанотехнологии. Изучение различных видов литографии, выполняемых с помощью СЗМ. Получение практических навыков выполнения динамической силовой литографии.

Сканирующий зондовый микроскоп Solver PRO

Учебно-научный комплекс NanoEducator

Сканирующий зондовый микроскоп NanoEducator