Ваш браузер устарел и не обеспечивает полноценную и безопасную работу с сайтом. Пожалуйста обновите браузер, чтобы улучшить взаимодействие с сайтом.

The use of plasmon resonance spectroscopy to analyze the parameters of thin layers

Наименование публикации The use of plasmon resonance spectroscopy to analyze the parameters of thin layers
Тип публикации Статья
Библиографическое описание The use of plasmon resonance spectroscopy to analyze the parameters of thin layers /Yatsishen V.V. / Journal of Physics: Conference Series, 1515(2), 2020
Аннотация -
Ключевые cлова -
Год публикации 2020
Автор(ы)
Электронная копия публикации -